Ram Stress Test _专业内存检测工具
RST内存检测软件使用说明,G|BV%d|~
Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式,是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式,他其实是从其他的产品独立出来的一项测试,该公司专作系统测试的软硬体,方便生产厂商将产品做详细测试,至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍,因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题,所以是非常好用的一个测试工具!! j@wb5j+c"XF
使用非常简易,只要设定为软碟开机就行了,他是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量他都能测!!
发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。
附件IMZ需要用winImage展开到软盘上,然后用此软盘启动系统。9pA1n\k r
附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。*@P)uI7A JTZ
程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试你CPU的L2 cache。
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☆ 可以测试SD及DDR内存。%u;sbUlrbS
☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEFRudIYh
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒"B+W1A'j-mzE9b
☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带动它(可解决部分点不亮问题)。必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 Ne a$xa`
☆ 发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。
☆ 程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试CPU的 L2 cache。
RAM测试软件说明书
(R.S.T )UX版R!gj2x kR5@Pt
闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。&Uxo)p1E6l
从左至右,0-7代表第一区域,8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。
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⒈DDR8位与16位的单面测法:8\|%C z!a5`?
⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏W4^$VUY E_z(i
⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏OX0btb7}
⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:
1k!Ra#IuV
1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------T1mt!s*b;m/Gn
s;HZeG0}4P/NB,S n
16-32M -------------------------------------------------------------------------------------------------------4r'oM:@UEWub0_k
VP}*u4m
32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------d*v:sZ mAy8m
48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------9~V"R4z+[
112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
&h.Aq$Le&`d
注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面,93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.
⒊SD的8位与16位的单面测法:'U7WnRUf
⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏"iU%@Lym ~w.T
⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏xF`)?1YE
⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏^/ak"g#c
⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏 Dr;s$JIPg~#C"m \
(注: PCB板上从1到84为第一面,颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1,切记注意)
4.通过以上的介绍,说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照 Y6lc`L Di:f;OE9m2f
它们的排列循序来判断。y0fc;K1?eVH!Yy
5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码,说明这根内存的PCB板有问题
6.点不亮的内存的测试方法: 很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带动它。 必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。
7.使用方法:直接把光盘插入光驱,在主板的CMOS里设置光驱起动, 启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测 谢谢 哈哈,这个工具好啊,下来试试,刚好用得上!谢谢!!! 好的,谢谢 谢谢.看看 :victory: :handshake 我服了 下的全是坏的,浪费我的表情 谢谢.看zW!x"{Q
:lol 好的,谢谢 看看再说 下来看看好用不? 好的,谢谢 好东西 我怎么下不下来啊 看看再说 是个好东西``可是我下载不了。 好软件,顶 xiexie 正是我要找的好文章 xiexie
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